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芯片ESD測(cè)試設(shè)備,HED-N5000 全自動(dòng)ESD測(cè)試系統(tǒng),ESD(靜電放電)測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開(kāi)發(fā)和半導(dǎo)體制造的生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量保證都是不可少的。
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