HED-G5000全自動芯片ESD測試設備

Hanwa ESD HED-G5000 全自動芯片ESD測試設備近年來，自動駕駛技術逐漸成為Tier1汽車電子智能系統(tǒng)的超前優(yōu)良技術，解決自動駕駛技術的關鍵在于提升自動駕駛芯片的可靠性，保障汽車運行中的安全。目前國內尚未有關于汽車芯片可靠性的標準，而是基于國際AEC-Q100系列標準而進行汽車芯片可靠性測試，其中一環(huán)節(jié)就是要對汽車芯片進行CDM和HBM的靜電相關測試。