PRODUCT CENTER
產(chǎn)品中心
N5290A和N5291A 是毫米波矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)解決方案的主要配置之一。 這兩個系統(tǒng)均對硬件和選件進(jìn)行了全面配置,以支持寬帶S參數(shù)測量。附加測量應(yīng)用軟件可以添加到基本配...
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日本Hanwa-HED-G5000全自動HBM/MM/Latch-up測試機(jī)、HANWA ESD測試機(jī)全自動芯片ESD測試設(shè)備產(chǎn)品概要:HANWA新一代G5000系列ESD 全自動...
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CDM測試儀,CDM測試設(shè)備適用于汽車芯片可靠性測試AEC標(biāo)準(zhǔn)中~靜電CDM測試設(shè)備
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SD(靜電放電)測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (...
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Hanwa ESD HED-G5000 全自動芯片ESD測試設(shè)備近年來,自動駕駛技術(shù)逐漸成為Tier1汽車電子智能系統(tǒng)的超前優(yōu)良技術(shù),解決自動駕駛技術(shù)的關(guān)鍵在于提升自動駕駛芯片的可...
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芯片ESD測試設(shè)備,HANWA HCE-5000ESD測試機(jī)是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。
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芯片ESD測試設(shè)備,HED-N5000 全自動ESD測試系統(tǒng),ESD(靜電放電)測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證...
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ESD(靜電放電)測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5100D全自動晶圓ESD測試機(jī)l...
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ESD測試設(shè)備,芯片ESD(靜電放電)測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進(jìn)行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶...
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對新能源汽車而言,汽車不再使用汽油發(fā)動機(jī)、油箱或變速器,“三電系統(tǒng)"即電池、電機(jī)、電控系統(tǒng)取而代之,新增DC-DC模塊、電機(jī)控制系統(tǒng)、電池管理系統(tǒng)、高壓電路等部件。而功率半導(dǎo)體 功...
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PNA-X 脈沖網(wǎng)絡(luò)儀使用 PNA-X/PNA/PNA-L 可以獲得功能和性能(頻率高達(dá) 120 GHz,通過頻率擴(kuò)展器可以進(jìn)一步擴(kuò)展到 1.5 THz)。
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半導(dǎo)體參數(shù)分析儀特點(diǎn)一臺半導(dǎo)體參數(shù)分析儀抵得上多種測量儀器Keysight B1500A 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是一款一體化器件表征分析儀,能夠測量 IV、CV、脈沖/動態(tài) IV 等參數(shù)...
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AM3200是一個有用的脈沖四通和負(fù)荷拉應(yīng)用的儀器。脈沖IV系統(tǒng)用于偏置晶體管近等溫條件,使精確緊湊的建?;顒?。該系統(tǒng)在兩種獨(dú)立的電源模式下工作:脈沖電或直流電(連續(xù) 模式)。PI...
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光感測器量子效率測量儀介紹隨著5G與移動設(shè)備的興起與普及,越來越多新型光傳感器被應(yīng)用于我們的日常生活中,為了能更好的應(yīng)用在行動裝置上,這些先進(jìn)光傳感器的組件感光面積越做越小。但這些...
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光感測器量子效率測量儀介紹隨著5G與移動設(shè)備的興起與普及,越來越多新型光傳感器被應(yīng)用于我們的日常生活中,為了能更好的應(yīng)用在行動裝置上,這些先進(jìn)光傳感器的組件感光面積越做越小。但這些...
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德國進(jìn)口晶圓光學(xué)檢測設(shè)備憑借著多年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)積累,我們可以為客戶提供半導(dǎo)體在片測試解決方案、材料電性能測試設(shè)備、微波射頻器件測量等測試技術(shù)服務(wù)。
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